АО «Завод ПРОТОН» (МИЭТ) 124498, Москва, Зеленоград, пл. Шокина, д.1 b-loginov@mail.ru +7
(495) 364-60-93 |
|
Сканирующий зондовый
микроскоп СММ-2000 атомное разрешение в СТМ / АСМ, поле до 40 /
40 / 5 мкм, 25 режимов, -20…+150 С |
|
СММ-2000-В Микроскоп СММ-2000 в вакуумной камере под
двумя магнетронами для in-situ наблюдения роста пленок и наночастиц; температура
образца -100…+1200 С |
|
МАГ-2000 Магнетрон с блоком управления для камер с аргоном 0,01 мбар Толщина сплошного покрытия – от 1 нм для графита и вольфрама |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
СММ-2000 звоните…
МАГ-2000 60 000 р. Мера
ПРО-10 * 33 000 р.
Профилометр * 420 000 р. Контурограф * 2
400 000 р. за полные
комплекты, с НДС, поверкой *, при
предоплате 100%, без участия в торгах скидки от
количества и прежним клиентам гарантия 1
год, заказ доставки, обучения |
|
|
GPI-Cryo Сверхвысоковакуумная 10(-11) мбар низкотемпературная 4,9К СТМ-головка сделано 2шт: для ИОФАН и Франции |
|
РАСМ-5 АСМ с машиной разрыва, для in-situ изучения
разрыва материалов кадр 200/200/10мкм, разрешение 1нм |
|
Кварц-XY1400/Z90нм Меры для поверки микроскопов Столбики хрома 90нм на кварце, шаг 1400нм, термостабилен. Меры вышли из Госреестра, дарятся желающим |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Микроскоп СММ-2000 в виде конструктора для обучения в ВУЗ-ах и школах Магистры, бакалавры, школьники 7-11 кл. собирают микроскоп своими руками, изучают атомы и наномир,
печатая его на 3D-принтере
и играя в нем в игры |
|
Профилометр модели 130 28 параметров шероховатости Ra 0,012 - 50 мкм, точность 2 % трасса до |
|
Контурограф модели 220 Измерение длин, углов, радиусов, диаметров; точность до трасса до |
|
ПРО-10 Меры шероховатости эталонные для поверки профилометров, микроскопов и контурографов 25 номиналов от 80 до 0,006 мкм Ra от 20 до 1250 мкм Sm (шаг) Госреестр, разряд 1 по ГОСТ 8.296 |
||
Микроскоп сканирующий зондовый СММ-2000, Сканирующий
мульти-микроскоп СММ-2000, Профилометр модели 130, Контурограф
модели 220, Меры шероховатости эталонные ПРО-10, Магнетрон МАГ-2000, МИЭТ,
Завод ПРОТОН, СТМ, сканирующий туннельный микроскоп, зонд - платиновая игла,
Нобелевская премия по физике 1986г, STM, scanning tunneling microscope; АСМ,
атомно-силовой микроскоп, зонды - кантилевер, AFM, Atomic force microscopy;
Зондовая микроскопия, Scanning Probe
Microscopy; Пирографит;
Фуллерен; Нанотрубки; Графен; Нанотехнология; Нанофаб;
Микроскоп-конструктор; Нанометр; Ангстрем; Высокий вакуум; Вакуумный микроскоп;
Атомное разрешение; Гелий; Пьезокерамика; Кремний;
Атомы; Учебный курс по зондовой микроскопии; эталон; калибровка; профилометр;
шероховатость; Ra; Rz; Rm; Rmax; контурограф;
измерение формы